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【SALE/37%OFF】 Science REALIZE & [第3版]半導体材料・デバイス / Engineering 電気電子工学の詳細情報

REALIZE Science & Engineering / [第3版]半導体材料・デバイス。半導体材料・デバイスの評価: パラメ-タ測定と解析評価の実際。半導体パラメトリック・テストの高速化 | PXI/LXI自動テスト。秋田県産あきたこまち 1等米 10キロ 無洗米Ok。

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【商品説明】

商品詳細

■商品名■
半導体材料・デバイスの評価 第3版: パラメータ測定と解析評価の実際

■出版社■
シーエムシー出版

■著者■
ディーター・K. シュロゥダー

■発行年■
2012/05/01

■ISBN10■
4781304796

■ISBN13■
9784781304793

■コンディションランク■
良い

コンディションランク説明
ほぼ新品:未使用に近い状態の商品
非常に良い:傷や汚れが少なくきれいな状態の商品
良い:多少の傷や汚れがあるが、概ね良好な状態の商品(中古品として並の状態の商品)
可:傷や汚れが目立つものの、使用には問題ない状態の商品

■コンディション詳細■
書き込みありません。水濡れ防止梱包の上、迅速丁寧に発送させていただきます。恐れ入りますが予めご了解いただきますようお願い申し上げます。2012 2/25発行。[A12298545]半導体材料・デバイスの評価: パラメ-タ測定と解析評価の実際 ディーター・K. シュロゥダー、 Schroder,Dieter。色素増感太陽電池の開発と構成材料/テクノロジー・環境。H17-029 テレビジョン工学 ハンドブック オーム社 記名塗り潰しあり。4156C 半導体パラメータアナライザ キーサイト・テクノロジー。

ご満足のいく取引となるよう精一杯対応させていただきます。市場動向レポート 「パワーデバイス (電力用半導体素子) と評価。Z-ASSIST インピーダンス解析支援ソフトウェア | 東陽テクニカ。お客様にとって大切な事柄を記載しておりますので、よくお読みいただき、ご了解の上ご購入をお願い致します。Sパラメータの取得方法 | ノイズ対策部品/EMI除去フィルタ/TVS。MAX30009 データシートおよび製品情報 | アナログ・デバイセズ。こちらをご利用いただくことで、税務申告時や確定申告時に消費税額控除を受けることが可能になります。パラメトリックテストシステム (PTS) の概要 – 半導体テスト - NI。NX Performance Predictor|製品|製造業DXの電通総研。どちらのサイトからもご購入可能です。角谷 正友 | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)。デバイス特性の解析とSPICEモデルの抽出 - シルバコ・ジャパン。古本のため多少の使用感やスレ・キズ・傷みなどあることもございますが全体的に概ね良好な状態です。。Aa-095/最新トランジスタ互換表 1975年版 昭和50年6月1日発行 発行所 CQ出版株式会社 各社トランジスタ/L8/61112。


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【その他の注意事項】

お取引に関わるその他の注意事項
【書き込みに関して】

書き込みの程度や付属品の揃い具合はできるだけチェックはしておりますが、多少(10%~20%程度)の誤差や見落としがあることもございます。H11-049 カラーテレビジョン 放送技術双書 日本放送協会編 外箱やカバーに破れ、書籍に書き込みあり。電子戦の技術 通信電子戦編 (東京電機大学出版局) デビッド・アダミー、河東晴子ほか訳。
【使用感などの状態に関して】

商品説明のコンディションランクをご参照ください。J18-129 ラジオライフ 2012/3 特集 DIY用品フル活用術 付録なし。
【画像および商品説明に関して】

出品している商品および付属物などは画像はサンプル画像となります。電気と工事(2022年1月号〜2016年12月)60冊まとめ売り。書籍の状態につていはご質問いただいてもご回答が出来かねる場合がございます。
【落札後のキャンセルや返品に関して】

ヤフオクでのご落札後のキャンセルは承っておりません。プリント回路技術便覧/エレクトロニクス実装学会【編】。責任を持って取引できる価格でのご入札をお願いいたします。

商品説明と著しく異なる点があった場合や異なる商品が届いた場合は、到着後30日間は無条件で着払いでご返品後に返金させていただきます。[A01629890]アセンブラ入門(CASL 2) 内田 智史。メール又は取引メッセージにてご連絡ください。商品に瑕疵がない状態での落札者様都合でのご返品は承っておりません。【※カバー無し】電気通信主任技術者通信線路問題集 日本理工出版会 電気通信主任技術者試験研究会。

  • REALIZE Science & Engineering / [第3版]半導体材料・デバイス
  • 半導体材料・デバイスの評価: パラメ-タ測定と解析評価の実際
  • 半導体パラメトリック・テストの高速化 | PXI/LXI自動テスト
  • 4156C 半導体パラメータアナライザ キーサイト・テクノロジー
  • 市場動向レポート 「パワーデバイス (電力用半導体素子) と評価
  • Z-ASSIST インピーダンス解析支援ソフトウェア | 東陽テクニカ
  • Sパラメータの取得方法 | ノイズ対策部品/EMI除去フィルタ/TVS
  • MAX30009 データシートおよび製品情報 | アナログ・デバイセズ
  • パラメトリックテストシステム (PTS) の概要 – 半導体テスト - NI
  • NX Performance Predictor|製品|製造業DXの電通総研
  • 角谷 正友 | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)
  • デバイス特性の解析とSPICEモデルの抽出 - シルバコ・ジャパン

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